產品簡介

HiXAS提供了完整的基于實驗室擴展X射線精細結構吸收譜(EXAFS)和X射線近邊結構吸收譜（XANES）的解決方案。在較小的占地面積內，它集成了X射線光管光源、高分辨光譜儀、光子計數(shù)像素化X射線探測器，以及用于儀器控制和數(shù)據(jù)的分析的控制軟件。

由于hiXAS的光譜質量于同步輻射測量的結果相當，使得冗長的同步輻射測量機時申請和等待變得不再有必要。

X射線光管光源和光譜儀可以覆蓋的能量范圍為5-12KeV，因此包括了3d過度金屬的K吸收邊。專門優(yōu)化的HAPG Von Hamos光譜儀結構可以獲得極高信噪比的光譜。因此，可分析的樣品濃度可以低至數(shù)個質量百分比。同時光譜儀在覆蓋的吸收邊范圍內，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我們還可以根據(jù)您的各種應用需要，提供定制化的hiXAS系統(tǒng)。

典型應用

1. 材料科學

• 催化劑研究

• EXAFS：分析催化劑活性位點的局部結構（如金屬納米顆粒的配位數(shù)、鍵長、無序度），揭示活性中心與反應機理的關系。

• XANES：確定催化劑的氧化態(tài)（如金屬的價態(tài)）和配位環(huán)境（如八面體或四面體對稱性），研究反應條件下的動態(tài)變化。

• 應用示例：貴金屬催化劑（如Pt、Pd）在燃料電池中的結構演變。

• 納米材料表征

• 通過EXAFS研究納米顆粒的尺寸、表面原子配位及界面結構；利用XANES分析量子點或團簇的電子態(tài)和化學鍵特性。

• 非晶/無序材料

EXAFS可解析非晶材料（如玻璃、合金）的短程有序結構，彌補X射線衍射（XRD）對長程有序的依賴。

2. 環(huán)境與地球科學

• 環(huán)境治理
  

3. 能源材料

• 電池材料

• 光伏與光催化

4. 配位化學

hiXAS可用于EXAFS和XANES測量的元素范圍。HiXAS可以在幾分鐘的時間內測量出分析物濃度僅為幾個重量百分比的稀釋樣品。

測量結果

應用案例

規(guī)格參數(shù)

資料/文獻

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公司介紹

德國HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于為全球科研及工業(yè)領域的客戶定制最佳解決方案，是科學儀器的全球供應商和領先開發(fā)商。產品線包括XAS系統(tǒng)，XUV/VUV/X-ray光譜儀，beamline產品等。主要團隊由x射線、光譜、光柵設計、等離子體物理、beamline等領域的專家組成。并與全球領先的研究機構的科學家維持緊密合作，關注前沿技術，保持產品的迭代與創(chuàng)新。