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行業(yè)資訊

【第四期】深入探討X射線計算機斷層掃描偽影

2025-09-16 17:21:14 unistar

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導(dǎo)讀


XCT mastery Monthly - 精通X射線CT月刊是由Francesco Iacoviello博士發(fā)起、撰寫并發(fā)布的,旨在給大家分享X射線CT相關(guān)的使用技巧、潛在竅門及經(jīng)驗見解。每期都會深入探討 XCT實踐中面臨的挑戰(zhàn)和解決方案,涵蓋以下主題:


圖像優(yōu)化:學(xué)習(xí)實現(xiàn)清晰CT 掃描的技巧。

故障排除:掌握克服常見 CT 問題和偽影的策略。

高級技術(shù):探索前沿方法和軟件功能。

工作流程效率:探索簡化 CT 流程并節(jié)省時間的方法。

社區(qū)討論:加入討論,分享您的經(jīng)驗和疑問。


深入探討X射線計算機

斷層掃描偽影


歡迎閱讀第四期《XCT精通月刊》!今天,我們將深入探討X射線計算機斷層掃描(CT)中那些引人入勝、有時又令人沮喪的偽影世界。你是否曾看過CT掃描圖像,發(fā)現(xiàn)一些不太對勁的地方?奇怪的陰影、意外的線條或奇特的圖案?很可能,你看到的就是偽影——圖像中的幻象,它們可能掩蓋關(guān)鍵細(xì)節(jié),或者更糟的是,模仿病變。


對于任何從事CT技術(shù)工作的人員來說,從放射技師、放射科醫(yī)生到醫(yī)學(xué)物理師和研究人員,理解這些“機器中的幽靈”都至關(guān)重要。在這份詳盡的指南中,我們將揭開那些最常見的影響圖像質(zhì)量的問題背后的奧秘,重點聚焦于射束硬化(Beam Hardening)、條狀偽影(Streak Artefacts)、環(huán)狀偽影(Ring Artefacts)和混疊(Aliasing)。準(zhǔn)備好了解它們的成因、表現(xiàn)形式,以及最重要的,如何對抗它們以確保診斷準(zhǔn)確性。

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(環(huán)狀偽影示例)


一、 XCT偽影為何重要?

在剖析具體偽影之前,我們先來理解為什么這個話題如此關(guān)鍵。XCT圖像是從圍繞樣本/患者采集的數(shù)千個X射線衰減測量值中重建出來的復(fù)雜圖像。將原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為橫斷面圖像的精密過程是現(xiàn)代醫(yī)學(xué)技術(shù)的奇跡。然而,這個過程并非總是完美的。


偽影是指圖像中重建的XCT數(shù)值與掃描物體真實衰減系數(shù)之間的差異。 它們可能以多種方式顯現(xiàn):

  • 誤導(dǎo)性密度:使組織和不同材料顯得比實際更致密或更稀疏。

  • 解剖結(jié)構(gòu)模糊:隱藏或模糊重要結(jié)構(gòu)。

  • 虛假病變:產(chǎn)生可能被誤認(rèn)為疾病的圖案。

  • 圖像清晰度降低:整體上降低掃描的診斷質(zhì)量。

顯著偽影的存在可能需要重復(fù)掃描,導(dǎo)致患者接受更高的輻射劑量和醫(yī)療成本增加。因此,徹底了解其起源和緩解策略至關(guān)重要。


二、射束硬化:“杯狀”與“條狀”偽影

射束硬化可以說是CT成像中最普遍的基于物理的偽影之一。它源于CT掃描儀產(chǎn)生的X射線束的多色性(如下圖1)。

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圖1. 單色與多色X射線束穿透物體后效果示例



射束硬化的成因是什么呢?

有X射線管輻射的X射線束并非由能量完全相同的光子組成;相反,它是一個能量譜。當(dāng)此光束穿過物體時,較低能量(較軟)的X射線比較高能量(較硬)的X射線更容易被衰減(吸收或散射)。這種對低能光子的優(yōu)先吸收導(dǎo)致X射線束在穿過物體時平均能量增加——因此稱為“射束硬化”。


CT中的重建算法通常假設(shè)使用的是單色(單能量)X射線束(圖1)。當(dāng)射束硬化效應(yīng)違背了這一假定時,衰減數(shù)據(jù)就會出現(xiàn)不一致,從而導(dǎo)致偽影。


射束硬化的表現(xiàn)形式是什么?

射束硬化主要以兩種方式表現(xiàn):

杯狀偽影(Cupping Artefact):在相對均勻、致密的物體(如頭部或圓柱形模體)圖像中,物體中心顯得比外圍人為更暗(CT值更低)。這使得物體在其密度分布上呈現(xiàn)“杯狀”或碟形外觀。這是因為穿過物體中心的光束路徑最長,因此變得“更硬”,導(dǎo)致中心區(qū)域的衰減被低估。(圖2左側(cè))


條狀偽影(Inter-Petrous Streaks):圖像中兩個致密物體之間(如顱骨巖骨之間或金屬植入物周圍(在醫(yī)學(xué)CT中)經(jīng)常出現(xiàn)黑色條紋或條帶。這些暗帶旁邊也可能出現(xiàn)亮條紋。這是因為同時穿過兩個致密物體的光束顯著硬化,導(dǎo)致沿該路徑的衰減被低估,相比之下,僅穿過其中一個物體或較軟組織的路徑則不會。(下圖2右側(cè))。

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圖2. 射束硬化偽影說明


馴服光束:射束硬化的減輕策略

有幾種方法可用于最小化射束硬化偽影:

1、硬件解決方案

過濾(Filtration):在X射線管處添加過濾器(例如,薄銅片、鋁片、錫片等),通過在低能光子到達樣本前將其部分移除,幫助“預(yù)硬化”光束。這使得光束更有效地接近單色。

更高kVp:使用更高的管電壓峰值(kVp)會產(chǎn)生更高的平均X射線束能量,不易發(fā)生硬化。但這可能會降低圖像對比度。


2、軟件矯正

射束硬化校正算法:大多數(shù)現(xiàn)代CT掃描儀都包含復(fù)雜的軟件算法,試圖校正射束硬化。這些算法可以線性化衰減數(shù)據(jù)或迭代重建圖像,以考慮光束的多色性。

雙能CT(DECT):這種先進技術(shù)涉及在兩種不同的X射線能量水平下采集數(shù)據(jù)。通過分析在這些能量下的衰減差異,可以更好地區(qū)分材料,并顯著減少射束硬化效應(yīng)。可以重建虛擬單色圖像,有效消除多色光束問題。


3、樣本定位與技術(shù)

盡可能避免掃描非常厚且致密的區(qū)域。使用適當(dāng)?shù)膾呙枰曇埃‵OV)和重建核。


三、 條狀偽影

雖然射束硬化是條狀偽影的一個主要原因,但它們也可能源于其他幾個來源。這些偽影表現(xiàn)為圖像上不正確的亨氏(HU)值的窗寬、條紋或條帶,通常從高對比度區(qū)域發(fā)出。


條狀偽影成因是什么呢?(除束硬化外)

1、光子不足(噪聲引起的條紋):當(dāng)X射線束穿過樣本非常致密的部分時,到達探測器的光子數(shù)量可能變得極低。這種“光子不足”導(dǎo)致投影數(shù)據(jù)噪聲非常大。在重建過程中,這種高噪聲會被放大并反投影到圖像中,成為顯著的條紋,通常出現(xiàn)在衰減最大的方向上。


2、金屬偽影:金屬物體(例如,牙科填充物、手術(shù)夾、假體裝置、脊柱內(nèi)固定物)的存在是導(dǎo)致嚴(yán)重條狀偽影的一個眾所周知的原因。這是由于極端的束硬化(金屬具有非常高的衰減系數(shù))、光子不足、散射以及金屬邊緣效應(yīng)的共同作用。產(chǎn)生的條紋可能非常嚴(yán)重,以至于使周圍的解剖結(jié)構(gòu)無法診斷。(下圖3)。

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圖3. 金屬偽影


3、患者運動:如果患者/物體在掃描過程中移動(無論是自主移動(并非樣本本身:))還是非自主移動,如呼吸或心臟運動),不同投影采集的數(shù)據(jù)會變得不一致。重建算法會誤解這種不一致性,導(dǎo)致條紋、模糊或重影偽影,尤其是在高對比度界面周圍。(如下圖4)

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圖4. 樣本運動偽影。


4、部分容積效應(yīng):雖然并不總是條紋,但當(dāng)體素包含具有非常不同衰減值的材料混合物(例如,致密骨和軟組織)時,產(chǎn)生的CT值是一個平均值。如果這種情況發(fā)生在尖銳、傾斜取向的界面上,有時會導(dǎo)致條紋狀或帶狀外觀。(如下圖5)

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圖5. 部分容積效應(yīng)。



條狀偽影減輕策略

處理條狀偽影很大程度上取決于其原因:

1、對于光子不足:

(1)增加管電流和/或管電壓:更高的管電流(mA)增加光子數(shù)量,而更高的kVp增加光子穿透力。

(2)自適應(yīng)過濾/管電流調(diào)制:現(xiàn)代掃描儀可以根據(jù)物體在不同投影下的衰減自動調(diào)整管電流,讓更多的光子透過更致密區(qū)。

(3)迭代重建和深度學(xué)習(xí)算法:這些先進的重建技術(shù)能更有效地處理噪聲數(shù)據(jù),并且與傳統(tǒng)的濾波反投影(FBP)相比,可以顯著減少條狀偽影。


2、對于金屬偽影:

(1)金屬偽影減少(MAR)軟件:專門的算法旨在識別和校正由金屬引起的損壞數(shù)據(jù)。這些算法可能涉及用插值替換受影響的投影數(shù)據(jù)或使用迭代方法。

(2)雙能CT:與射束硬化一樣,DECT有助于區(qū)分金屬和組織,并在更高能量下生成虛擬單色圖像,減少金屬引起的條紋。

(3)增加管電壓:提高對金屬的穿透力。

(4)薄層掃描:有時有助于隔離偽影。


3、對于患者運動(醫(yī)學(xué)CT):

(1)患者溝通與固定:清晰的指令、舒適的體位和固定裝置可以減少自主運動。

(2)更快的掃描時間:現(xiàn)代多探測器CT(MDCT)掃描儀提供非常快速的采集,最大限度地減少運動機會。

(3)心電門控/呼吸門控:對于心臟和胸部成像,心電門控將數(shù)據(jù)采集與心臟周期同步,而呼吸門控則在特定呼吸階段采集數(shù)據(jù)。

(4)運動校正算法:一些高級軟件可以進行回顧性運動偽影校正。


四、 環(huán)狀偽影:不需要的圓圈

環(huán)狀偽影,顧名思義,是疊加在CT圖像上的圓形或同心圓環(huán)圖案,通常以旋轉(zhuǎn)軸為中心。它們是基于掃描儀的偽影的典型例子。


環(huán)狀偽影成因是什么呢?

環(huán)狀偽影主要由CT掃描儀中的探測器故障或校準(zhǔn)錯誤引起:

(1)探測器漂移/增益變化:如果一個或多個探測器元件校準(zhǔn)失常,即它們對給定X射線強度的響應(yīng)持續(xù)高于或低于其相鄰元件,這種誤差會在所有角度上反投影,從而產(chǎn)生一個環(huán)。

(2)有缺陷的探測器元件:一個不工作或間歇性工作的探測器元件也會導(dǎo)致讀數(shù)不一致,產(chǎn)生環(huán)狀偽影。

(3)污染:在極少數(shù)情況下,CT管孔徑或探測器窗口上的外來物質(zhì)(如一滴造影劑)可能導(dǎo)致環(huán)狀圖案。


本質(zhì)上,來自一個或多個探測器元件的任何系統(tǒng)性誤差,若未通過校準(zhǔn)程序校正,都可能導(dǎo)致這些偽影。



環(huán)狀偽影的表現(xiàn)形式

環(huán)狀偽影通常非常明顯(下圖6):

(1)它們表現(xiàn)為尖銳的、完整的或部分的圓圈。

(2)它們以掃描儀的等中心點為中心。

(3)它們可能很細(xì)微或非常顯著,有時會掩蓋下方的解剖結(jié)構(gòu)/樣本特征。

(4)如果多個探測器像素受到影響,可能會出現(xiàn)多個環(huán)。

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圖6. 環(huán)狀偽影示例



環(huán)狀偽影的消除策略

預(yù)防和校正環(huán)狀偽影通常涉及CT掃描儀的維護和校準(zhǔn):

(1)探測器校準(zhǔn):定期且徹底地校準(zhǔn)探測器陣列是最關(guān)鍵的預(yù)防措施。這包括空氣校準(zhǔn)(在光束中沒有物體時進行校準(zhǔn))和通常的模體校準(zhǔn),以確保所有探測器元件都能準(zhǔn)確、均勻地響應(yīng)。

(2)軟件校正:許多掃描儀具有旨在檢測和校正輕微探測器變化的軟件算法。這些算法可以在正弦圖(原始數(shù)據(jù))中識別有故障的探測器讀數(shù),并用相鄰正常工作的探測器的插值替換它們。(如下圖7)

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圖7. 用于減輕環(huán)狀偽影的軟件校正。


(3)探測器更換/維修:如果某個探測器元件持續(xù)故障且校準(zhǔn)/軟件校正不足,則可能需要服務(wù)工程師進行維修或更換。

(4)清潔:確保CT組件,包括X射線管窗口和探測器蓋,清潔且無障礙物。


五、 混疊(欠采樣)偽影:

莫爾條紋的冒名者

混疊偽影,有時稱為欠采樣偽影,發(fā)生在物體中的精細(xì)細(xì)節(jié)或銳利邊緣未被探測器系統(tǒng)足夠充分地采樣時。這種不充分的采樣會導(dǎo)致高頻信號在重建圖像中被錯誤地表示為低頻信號,從而產(chǎn)生失真(圖8)。

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圖8. 混疊偽影示例



混疊偽影的成因

奈奎斯特采樣定理指出,要準(zhǔn)確表示一個信號,必須以至少其最高頻率分量兩倍的速率進行采樣。在CT中:


(1)投影采樣不足(角度欠采樣):如果樣本旋轉(zhuǎn)時采集的投影視圖太少,可能會遺漏或誤解精細(xì)細(xì)節(jié),導(dǎo)致從銳利邊緣或致密物體發(fā)出的細(xì)條紋。這在較老舊的掃描儀或快速協(xié)議(CT掃描中的“快速協(xié)議”是指優(yōu)化的工作流程和成像技術(shù),以提高速度,而不一定是單一的通用協(xié)議)中更常見。


(2)射線采樣不足(空間欠采樣):如果探測器像素相對于被成像的細(xì)節(jié)過大,或者每個投影的采樣數(shù)過低,就可能發(fā)生混疊。這在成像具有規(guī)則高頻結(jié)構(gòu)的物體(如具有緊密間隔條的測試模型)時,會導(dǎo)致類似莫爾條紋的圖案(波浪狀或斑馬條紋圖案)。


本質(zhì)上,掃描儀“觀察”得不夠充分或不夠詳細(xì),無法準(zhǔn)確捕獲物體的結(jié)構(gòu)。



混疊偽影的表現(xiàn)形式

混疊偽影可表現(xiàn)為:

(1)從致密結(jié)構(gòu)邊緣發(fā)出的細(xì)條紋或放射狀線條。這些通常出現(xiàn)在掃描物體的外圍。

(3)莫爾圖案:波浪狀或幾何圖案,特別是在成像具有周期性結(jié)構(gòu)的物體時,如果這些結(jié)構(gòu)比采樣間隔更精細(xì)。

(3)整體銳度損失或沿傾斜邊緣出現(xiàn)“階梯狀”圖案。

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圖9. CT數(shù)據(jù)中混疊偽影的圖示。Step = 5 和 step = 10 分別僅使用原始數(shù)據(jù)的10%和20%進行重建。您可以看到使用太少投影產(chǎn)生條紋的效果。由Rigaku提供



混疊偽影減輕策略

最小化混疊涉及確保充足的數(shù)據(jù)采樣:

(1)增加投影數(shù)量:每次旋轉(zhuǎn)采集更多視圖(更高的角度采樣)有助于緩解,但這可能會略微增加掃描時間或劑量?,F(xiàn)代掃描儀通常為大多數(shù)應(yīng)用提供足夠的投影采樣。

(2)使用更小的視野(FOV)或放大重建:將重建聚焦在更小的區(qū)域可以有效提高該區(qū)域的采樣密度。

(3)更薄的層厚和更小的探測器像素:更高的空間分辨率能力(更小的探測器,更薄的重建層厚)本質(zhì)上意味著能更好地采樣精細(xì)細(xì)節(jié)。

(4)重建卷積核(又稱濾波函數(shù)):雖然不能直接防止混疊,但更平滑的重建核有時可以掩蓋混疊偽影的出現(xiàn),但代價是空間分辨率。更銳利的卷積核可能會加重它們。

(5)掃描儀設(shè)計:現(xiàn)代CT掃描儀通常采用探測器配置和采集協(xié)議設(shè)計,以最小化典型成像中的混疊。然而,在高分辨率研究應(yīng)用或成像具有精細(xì)圖案的樣本時,它仍然可能是一個問題。


六、結(jié)語

雖然CT偽影的世界看似復(fù)雜,但理解其起源是掌握圖像質(zhì)量的第一步。射束硬化、來自各種來源的條紋、環(huán)狀偽影以及混疊的欺騙性圖案,每一個都帶來了獨特的挑戰(zhàn)。幸運的是,CT技術(shù)的進步——從復(fù)雜的硬件設(shè)計和智能采集協(xié)議到強大的迭代重建算法——正在不斷為我們提供更好的工具來對抗這些不受歡迎的圖像入侵者。


通過保持警惕、執(zhí)行定期的質(zhì)量控制和校準(zhǔn)、選擇適當(dāng)?shù)膾呙鑵?shù)以及利用最新的技術(shù)進步,我們可以顯著減少偽影的影響。這確保我們獲取的圖像不僅僅是圖片,而是患者解剖結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確、可靠的表征,為準(zhǔn)確的診斷和有效治療鋪平道路。


請繼續(xù)關(guān)注未來幾期,我們將探索新的有趣主題!

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關(guān)于 Francesco Iacoviello 博士


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Francesco Iacoviello 是倫敦大學(xué)學(xué)院 (UCL) 化學(xué)工程系 EIL X 射線設(shè)施的實驗經(jīng)理。他于 2012 年在意大利錫耶納大學(xué)獲得礦物學(xué)和地球科學(xué)博士學(xué)位,之后前往巴西圣保羅大學(xué),擔(dān)任該校海洋研究所的 X 射線衍射專家和實驗室經(jīng)理。Francesco 于 2015 年加入 EIL,他的研究領(lǐng)域廣泛,涵蓋從電化學(xué)裝置到頁巖氣巖石、碳捕獲和儲能系統(tǒng)以及微隕石等地質(zhì)材料的多尺度 X 射線計算機斷層掃描表征。

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眾星聯(lián)恒在Francesco Iacoviello博士的授權(quán)下將其XCT Mastery Monthly系列翻譯為中文并傳播,旨在讓更多的人了解X射線CT相關(guān)的使用技巧、潛在竅門及經(jīng)驗見解,及打造一個專業(yè)的交流社區(qū)。


科學(xué)研究與產(chǎn)業(yè)的交流互動,是推動產(chǎn)業(yè)發(fā)展的重要動力。眾星聯(lián)恒作為EUV-X射線核心部件及解決方案供應(yīng)商,我們秉承著“技術(shù)無界·產(chǎn)業(yè)共生”為核心理念,一直致力于打造開放包容的交流平臺,不僅希望將優(yōu)秀成果引入中國,也致力于把中國的科研成果推向世界。

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往期回顧:

【首刊】X射線CT的樣品制備:手工與激光微加工的對比及其在不同領(lǐng)域的應(yīng)用

【第二期】揭開隱形的面紗:計算機斷層掃描中X射線產(chǎn)生的奇跡

【第三期】揭示扁平結(jié)構(gòu)的內(nèi)部秘密:X射線計算機層析(CL)成像的興起

內(nèi)容:Francesco Iacoviello

校對:凱文

編輯:Sylvia

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