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![非掃描臺(tái)式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀，加速非晶材料結(jié)構(gòu)及其演化過(guò)程探索的步伐]()
非掃描臺(tái)式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀，加速非晶材料結(jié)構(gòu)及其演化過(guò)程探索的步伐
自 1895 年倫琴發(fā)現(xiàn) X 射線以來(lái)，基于 X 射線衍射技術(shù)等多種材料結(jié)構(gòu)表征方法應(yīng)運(yùn)而生，并逐漸發(fā)展成為現(xiàn)代材料科學(xué)領(lǐng)域研究重要的實(shí)驗(yàn)工具。然而，在長(zhǎng)程有序的晶體結(jié)構(gòu)研究領(lǐng)域取得了輝煌成就的 X 射線衍射技術(shù)，對(duì)于非晶材料結(jié)構(gòu)的探索卻表現(xiàn)出無(wú)能為力。X 射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜（XAFS）作為一種材料局域結(jié)構(gòu)解析的先進(jìn)表征技術(shù)，利用 X 射線與結(jié)構(gòu)原子相互作用時(shí)系統(tǒng)量子力學(xué)狀態(tài)的描述，能夠在短程結(jié)構(gòu)
2022-12-19
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![實(shí)驗(yàn)室X射線相襯成像技術(shù)—核心調(diào)制和探測(cè)器件技術(shù)分析（下）]()
實(shí)驗(yàn)室X射線相襯成像技術(shù)—核心調(diào)制和探測(cè)器件技術(shù)分析（下）
上篇我們談到了使用毛細(xì)管調(diào)制來(lái)提高光源利用率以及采用單光柵/掩模法來(lái)降低系統(tǒng)復(fù)雜度的兩種思路，下面我們來(lái)談?wù)勱P(guān)于光柵/微結(jié)構(gòu)技術(shù)指標(biāo)權(quán)衡、高能大視場(chǎng)器件選擇的其他思路。 2.1 大視場(chǎng)光柵/微結(jié)構(gòu)—成本vs指標(biāo)接下來(lái)，回到光柵法相襯的光柵問(wèn)題。我們都知道探測(cè)器前的分析光柵的透過(guò)率對(duì)可見(jiàn)度的影響是非常大的。如果光柵對(duì) X 射線的截止能力不足，那么會(huì)極大的增加探測(cè)器的噪聲，從而淹沒(méi)相襯的信號(hào)。以邊緣照
2022-11-29
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![“‘動(dòng)’析顯微新世界”-2022年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)即將在莞召開(kāi)！]()
“‘動(dòng)’析顯微新世界”-2022年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)即將在莞召開(kāi)！
2022年是中國(guó)電子顯微鏡學(xué)會(huì)成立四十二周年，《電子顯微學(xué)報(bào)》創(chuàng)刊四十周年。在老一輩科學(xué)家引領(lǐng)下，中國(guó)電子顯微學(xué)事業(yè)蓬勃發(fā)展至今；中青年學(xué)者賡續(xù)中國(guó)電子顯微學(xué)的優(yōu)良傳統(tǒng)，瞄準(zhǔn)國(guó)際前沿科學(xué)問(wèn)題和國(guó)家重大戰(zhàn)略需求，不斷為我國(guó)卡脖子難題的攻克貢獻(xiàn)中國(guó)電子顯微學(xué)者不可或缺的重要力量。2022年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)將于11月25 - 29日（25日?qǐng)?bào)到，29日離會(huì)）在東莞市會(huì)展國(guó)際大酒店召開(kāi)。此次眾星將在
2022-11-24
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![實(shí)驗(yàn)室X射線相襯成像技術(shù)—核心調(diào)制和探測(cè)器件技術(shù)分析（上）]()
實(shí)驗(yàn)室X射線相襯成像技術(shù)—核心調(diào)制和探測(cè)器件技術(shù)分析（上）
X 射線相襯成像技術(shù)通過(guò)探測(cè) X 射線穿過(guò)物體后相位的改變來(lái)對(duì)物體成像。與傳統(tǒng)的 X 射線吸收成像相比，X 射線相位襯度成像能夠?yàn)檩p元素樣品提供更高的襯度，克服了傳統(tǒng)吸收成像無(wú)法對(duì)弱吸收物體成像的缺點(diǎn)，特別適合用于對(duì)軟組織和輕元素構(gòu)成的樣品進(jìn)行成像，因而在醫(yī)學(xué)、無(wú)損檢測(cè)和材料學(xué)方面有很高的應(yīng)用價(jià)值。目前主要存在 5 類(lèi)相襯成像方式，他們大部分對(duì)光源的相干性要求極高，只能在同步輻射光源或者借助微焦點(diǎn)
2022-11-24
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![低至亞微米分辨！高分辨、高靈敏度X射線CCD/sCMOS相機(jī)]()
低至亞微米分辨！高分辨、高靈敏度X射線CCD/sCMOS相機(jī)
引言根據(jù) X 射線能量轉(zhuǎn)換為相應(yīng)電荷的方式不同，X 射線相機(jī)可以分為間接和直接探測(cè)兩類(lèi)。目前基于光子計(jì)數(shù)的像素化 X 射線直接探測(cè)器， 得益于其高探測(cè)效率、零噪聲、高幀率、能量窗口篩選能力，低點(diǎn)擴(kuò)散等特點(diǎn)，使得其在 X 射線衍射，散射，關(guān)聯(lián)光譜等弱光或有時(shí)間分辨要求的應(yīng)用得到廣泛的應(yīng)用，在 X 射線能譜成像領(lǐng)域帶來(lái)了質(zhì)的飛躍，目前商業(yè)化的醫(yī)用能譜 CT 已經(jīng)面世。此項(xiàng)技術(shù)的發(fā)展充分踐行科學(xué)技術(shù)造福
2022-11-07
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![您需要一個(gè)中間有洞的成像探測(cè)器嗎？]()
您需要一個(gè)中間有洞的成像探測(cè)器嗎？
引言混合像素探測(cè)器技術(shù)最初是為了滿足歐洲核子中心- CERN 大型強(qiáng)子對(duì)撞機(jī) LHC 的粒子跟蹤需求而開(kāi)發(fā)的。來(lái)自歐洲核子中心- CERN 和一些外部合作小組的研究人員看到了將混合像素探測(cè)器技術(shù)轉(zhuǎn)移到高能物理領(lǐng)域以外的應(yīng)用的機(jī)會(huì)。于是該技術(shù)在同步輻射多種 X 射線表征技術(shù)，實(shí)驗(yàn)室衍射儀，桌面吸收譜，能譜 CT 等眾多領(lǐng)域有了廣泛的應(yīng)用。同時(shí)為特定應(yīng)用方向開(kāi)發(fā)的專(zhuān)用探測(cè)器紛紛面世。1AdvaPIX
2022-10-24
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![闊別四年，終于再見(jiàn)面了！第三屆射線成像新技術(shù)及應(yīng)用研討會(huì)]()
闊別四年，終于再見(jiàn)面了！第三屆射線成像新技術(shù)及應(yīng)用研討會(huì)
第三屆射線成像新技術(shù)及應(yīng)用研討會(huì)將于 2022 年 11 月 2 - 11 月 4 日在上海舉行，射線成像技術(shù)應(yīng)用與發(fā)展在軍用和民用領(lǐng)域發(fā)揮了關(guān)鍵作用，隨著技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的射線成像方法不能滿足現(xiàn)有的需求，射線成像新技術(shù)通過(guò)新穎的物理檢測(cè)原理、先進(jìn)的探測(cè)技術(shù)、新的射線成像方法、圖像重建和定量分析相結(jié)合，提高了成像質(zhì)量和效率。前沿射線成像技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于國(guó)防、生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域。大會(huì)每?jī)赡昱e
2022-10-08
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![MiniPIX EDU客戶(hù)看過(guò)來(lái)！9月23日CERN在線教學(xué)]()
MiniPIX EDU客戶(hù)看過(guò)來(lái)！9月23日CERN在線教學(xué)
CERN 的 Medipix 研究小組將為使用 ADVACAM MiniPIX EDU 探測(cè)器的老師、學(xué)校和機(jī)構(gòu)舉行在線會(huì)議，主講人將分享 MiniPIX EDU 的使用經(jīng)驗(yàn)，并一起討論更多的應(yīng)用。我們誠(chéng)摯地邀請(qǐng) MiniPIX EDU 的用戶(hù)或?qū)庾佑?jì)數(shù)成像技術(shù)感興趣的老師參與此次活動(dòng)。時(shí)間：2022 年 9 月 23 日下午 2 ：00（歐洲中部時(shí)間），北京時(shí)間 23 日晚上 8：00時(shí)長(zhǎng):
2022-09-22
