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XUV/VUV/X射線光譜儀

HighLIGHT 高分辨率平場(chǎng)XUV光譜儀

波長(zhǎng)范圍為1 ~ 100nm

  • 產(chǎn)地: 德國(guó)
  • 型號(hào): HighLIGHT
  • 品牌: HP Spectroscopy

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

  • 平場(chǎng)掠入射光譜儀

  • 最佳光譜分辨率

  • 波長(zhǎng)范圍為1 ~ 100nm

  • 高效率無(wú)狹縫模式

在易用型平場(chǎng)校正光譜儀市場(chǎng)中,highLIGHT具有較高的光譜分辨率。單次測(cè)量覆蓋寬光譜范圍的同時(shí),可獲得優(yōu)于等于0.006nm的光譜分辨率。同時(shí),客戶可以選擇是否使用入射狹縫。

集成了狹縫架、濾波器插入裝置、以及電動(dòng)光柵定位設(shè)備的模塊化設(shè)計(jì)特點(diǎn),使其能夠匹配不同的實(shí)驗(yàn)幾何和構(gòu)型。

靈活完善的探測(cè)器配置選項(xiàng)

  • nXUV CCD——高分辨高動(dòng)態(tài)范圍應(yīng)用

  • nMCP/CMOS——寬光譜范圍、門控或像增強(qiáng)探測(cè)需求


無(wú)狹縫設(shè)計(jì)

HPS公司專有的光譜儀設(shè)計(jì)使用光源直接成像技術(shù)。 因此,不需要狹窄的入口狹縫,并且可以最大程度地收集入射光束。 與傳統(tǒng)的光譜儀相比,到達(dá)探測(cè)器的光強(qiáng)會(huì)高出20倍。 該結(jié)構(gòu)還極大地提高了日常操作的穩(wěn)定性。

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

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測(cè)量結(jié)果

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

利用highLIGHT XUV獲得的倍頻摻鐿光纖激光系統(tǒng)(334kHz, 90uJ,<300fs)的第9次諧波和第11次諧波光譜。諧波帶寬為約20 meV(半高全寬),對(duì)應(yīng)的相對(duì)能量帶寬為ΔE/E = 7.5E-4。

V. Hilbert et al, A compact, turnkey, narrow-bandwidth, tunable,
and high-photon-flux extreme ultraviolet source

AIP Advances 10, 045227 (2020)

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

用highLIGHT SXR+在2.88nm(430eV,對(duì)應(yīng)1s2-1s2p躍遷)處獲得的氮譜線的發(fā)射譜測(cè)量結(jié)果。譜線的半高全寬是對(duì)應(yīng)1.7個(gè)CCD像元尺寸(13μm像元),對(duì)應(yīng)分辨能力為1890。該探測(cè)器的極限分辨能力可達(dá)3290。

data courtesy of Dr. K. Mann, Laser-Laboratorium G?ttingen

規(guī)格參數(shù)

Topology類型

像差校正平場(chǎng)光譜儀

波長(zhǎng)范圍

1-100nm



光源距離

可根據(jù)用戶實(shí)際光路靈活調(diào)整

探測(cè)器類型

CCD or MCP/CMOS


真空兼容度

<10-6mbar (UHV超高真空版可定制)


無(wú)狹縫技術(shù)



入射狹縫

可選



光柵定位

閉環(huán)電控臺(tái)


濾光片插入裝置



控制接口

  USB 或 Ethernet



軟件

Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK

定制化

可根據(jù)需求定制


可選項(xiàng)

非磁性,旋轉(zhuǎn)幾何等



SXR+

SXR

XUV

波長(zhǎng)范圍

1-5nm

1-20nm

5-100nm

色散能力

0.06nm/mm

0.1-0.2nm/mm

0.2-0.7nm/mm

分辨率

<0.001nm

at 3nm

<0.005nm

at 10nm

<0.02nm

at 60nm


資料/文獻(xiàn)

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司HP-Spectroscopy_highLIGHT高分辨率平場(chǎng)XUV光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf


公司介紹

德國(guó)HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于為全球科研及工業(yè)領(lǐng)域的客戶定制最佳解決方案,是科學(xué)儀器的全球供應(yīng)商和領(lǐng)先開(kāi)發(fā)商。產(chǎn)品線包括XAS系統(tǒng),XUV/VUV/X-ray光譜儀,beamline產(chǎn)品等。主要團(tuán)隊(duì)由x射線、光譜、光柵設(shè)計(jì)、等離子體物理、beamline等領(lǐng)域的專家組成。并與全球領(lǐng)先的研究機(jī)構(gòu)的科學(xué)家維持緊密合作,關(guān)注前沿技術(shù),保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。


規(guī)格參數(shù)

Topology類型

像差校正平場(chǎng)光譜儀

波長(zhǎng)范圍

1-100nm



光源距離

可根據(jù)用戶實(shí)際光路靈活調(diào)整

探測(cè)器類型

CCD or MCP/CMOS


真空兼容度

<10-6mbar (UHV超高真空版可定制)


無(wú)狹縫技術(shù)



入射狹縫

可選



光柵定位

閉環(huán)電控臺(tái)


濾光片插入裝置



控制接口

  USB 或 Ethernet



軟件

Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK

定制化

可根據(jù)需求定制


可選項(xiàng)

非磁性,旋轉(zhuǎn)幾何等



SXR+

SXR

XUV

波長(zhǎng)范圍

1-5nm

1-20nm

5-100nm

色散能力

0.06nm/mm

0.1-0.2nm/mm

0.2-0.7nm/mm

分辨率

<0.001nm

at 3nm

<0.005nm

at 10nm

<0.02nm

at 60nm


北京眾星聯(lián)恒科技有限公司HP-Spectroscopy_highLIGHT高分辨率平場(chǎng)XUV光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf

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