XRS是一套完備的X射線能譜探測系統(tǒng),由于探測器探頭、供電電源及DDP組成,非常適用于工業(yè)和實驗室的X射線熒光分析等需要X射線能譜測量的應(yīng)用。單獨預(yù)先調(diào)整的系統(tǒng)參數(shù)與正確選擇 SDD 模塊類型相結(jié)合,可在特定應(yīng)用領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)最佳性能和可靠性。
規(guī)格參數(shù):
◆有效探測面積:10-30 mm2
◆能量分辨率:125-129 eV FWHM @Mn-Ka,-30°
◆真空密封性:<0.01 mbar
◆窗口材料:BE,PTW(低能應(yīng)用)
XRS-The XRF Detector System參數(shù):
名稱 | 有效面積 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 準直器 |
SDD-10-130-BeP Complete XRS | 10 | 129 eV | 4 500 | 8 μm Be | 3.2mm |
SD3plus-10-125pnW-BeP Complete XRS | 10 | 125 eV | 15000 | 8 μm Be | 3.1mm |
SD3plus-10-125pnW-PTW Complete XRS | 10 | 125 eV | 15000 | PTW | 3.1mm |
SDDplus-30-128pnW-BeP Complete XRS | 30 | 127 eV | 10000 | 8 μm Be or PTW | 5.8mm |
主要特點:
與數(shù)字脈沖處理器 (DPP) 或模擬整形器一起使用的高分辨率檢測器系統(tǒng)
XRF 窗口選項開放式模塊 (OM)、超薄窗口 (UTW)、鈹或平面薄窗口 (PTW),用于檢測低至Li的輕元素
真空密封探測器鼻子,可輕松適應(yīng)真空室
第二個 Peltier 用于在較高溫度下改善散熱
用于完全可控 SDD 模塊條件的壓力和溫度監(jiān)控以及用于延長模塊真空壽命的吸氣劑重新激活選項
XRS X射線光譜儀不同類型平面薄窗口透過率
XRS X射線光譜儀探測頭功能結(jié)構(gòu)示意圖
不同芯片制冷問題下能量分辨率
使用PTW窗口的、低至C的輕元素探測器性能
典型應(yīng)用:
X射線熒光分析
X射線能譜測量
XRS-The XRF Detector System參數(shù):
名稱 | 有效面積 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 準直器 |
SDD-10-130-BeP Complete XRS | 10 | 129 eV | 4 500 | 8 μm Be | 3.2mm |
SD3plus-10-125pnW-BeP Complete XRS | 10 | 125 eV | 15000 | 8 μm Be | 3.1mm |
SD3plus-10-125pnW-PTW Complete XRS | 10 | 125 eV | 15000 | PTW | 3.1mm |
SDDplus-30-128pnW-BeP Complete XRS | 30 | 127 eV | 10000 | 8 μm Be or PTW | 5.8mm |
典型應(yīng)用:
X射線熒光分析
X射線能譜測量