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新聞動態(tài)

  • 相襯顯微CT和非晶硒探測器在農(nóng)業(yè)和自然中的應用

    X 射線成像可提供對農(nóng)作物和農(nóng)產(chǎn)品質量、結構和成分的深入了解，從而在農(nóng)業(yè)中發(fā)揮重要作用。具體來說，X 射線可用于：種子和谷物的質量評估，以評估谷物質量和可能影響作物產(chǎn)量的缺陷，例如裂紋、蟲害或空心種子。檢測植物病害和害蟲，以盡量減少作物損害，例如昆蟲和真菌或生理疾病造成的蛀道。使用 BrillianSe? 在40 kV、200 uA 下掃描對咖啡豆的切片像可以使用 X 射線計算機斷層掃描 (CT)

    2023-09-11

  • 日本CSC光學浮區(qū)爐落戶東北大學材料學實驗室

    今日話題眾星聯(lián)恒攜手日本CSC協(xié)助東北大學材料學實驗室完成FZ-10000型光學浮區(qū)爐的安裝與調(diào)試NEWS”7 月 25 日至 27 日，由我司資深高級工程師唐永森帶領的專業(yè)技術團隊，為東北大學的材料學實驗室安裝并成功調(diào)試了來自日本 CSC 公司的光學浮區(qū)爐。這次任務的完美達成，不僅為東北大學的材料研究提供了更先進高效的實驗設備，也再次證明了眾星聯(lián)恒在高精尖科研設備領域的專業(yè)實力。光學浮區(qū)爐是一款

    2023-09-11

  • Timepix探測器用于粒子識別與質子重離子放療應用

    我們傳統(tǒng)使用的放療方式大多是基于 X 射線或者伽馬射線的光子放療，而由于其被物質吸收過程的基本特性，光子放療的劑量在人體表面達到最大值然后逐漸減少。相較而言，基于質子和重離子的粒子放療，由于其存在布拉格峰（Bragg peak），可控制劑量集中于腫瘤組織，以減少放療對健康細胞的傷害。（圖片來自Advanced Oncotherapy）（圖片來自ProTom International）作為一種先進

    2023-08-17

  • iWoRiD 2023-第24屆輻射成像探測器國際研討會成功召開，共享行業(yè)精華

    iWoRiD 輻射成像探測器國際研討會每年舉行一次，其目的是為從事輻射成像探測器領域的科研學者提供一個分享新進展新成就，探討未來發(fā)展和深化交流合作的國際化平臺。研討會聚焦半導體、氣體和閃爍體探測器，主題包括探測器材料的處理和表征、混合和互連技術、計數(shù)或集成電子器件的設計、讀出和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，以及涉及科研及工業(yè)領域的多項應用。今年的會議于 6 月 25-29 日在奧斯陸科學園成功召開，ADVACAM

    2023-07-13

  • 與光同盟-眾星聯(lián)恒十周年特別活動驚喜來襲

    我們看不見時間但可以看見時間的力量一群人的無悔推動一個領域的向上為熱愛而堅持，為求知而探索這十年，我們有幸見證 2013 到 2023十年旅程，漫長而充實十年間我們不斷前行，追求卓越十年風雨與榮光，離不開每一位客戶對我們的支持與信任，在眾星成立十周年之際，我們將與每一位客戶一同悅享周年之喜。執(zhí)光開路 與光同盟眾星聯(lián)恒十周年特別活動驚喜來襲！活動時間：2023 年 7-10 月1 VIP優(yōu)享盛典活動

    2023-08-24

  • Talint EDU: 模塊化、高性價的X射線相襯、暗場成像套件

    傳統(tǒng)的 X 射線吸收成像相比，X 射線相位襯度成像能夠為輕元素樣品提供更高的襯度，特別適合用于對軟組織和輕元素構成的樣品進行成像。目前，主要的 5 類相襯成像方式中，大部分對光源的相干性要求極高，只能在同步輻射光源或者借助微焦點X射線源實現(xiàn)。而光柵法相襯成像，經(jīng)過十多年的發(fā)展，已經(jīng)成為在實驗室實施相襯成像實驗的主流技術路線。但是，高深寬比和大視場光柵的制作一直是困擾研究人員的一個痛點，LIGA 技

    2023-06-19

  • 使用泰伯·勞干涉儀測量HED等離子體相襯像

    診斷高能量密度(HED)等離子體的特性，例如存在于慣性約束聚變(ICF)中的等離子體，對于理解它們的演化和相互作用至關重要。然而，考慮到所涉及的通常極端的溫度和密度條件，以及其中一些相互作用發(fā)生的小時間和空間尺度，獲得這些測量結果是具有挑戰(zhàn)性的。干涉測量法是目前等離子體最靈敏、最成功的診斷方法之一。然而，由于最常見的干涉測量系統(tǒng)的設計，工作波長有限，因此可以探測的密度和溫度范圍受到嚴重限制，難以測

    2023-06-19

  • 新突破！復合折射透鏡和菲涅爾波帶片定制組合實現(xiàn)寬能量范圍X射線復消色差聚焦

    Top-Unistar瑞士保羅謝勒研究所（PSI）的科學家創(chuàng)新性地開發(fā)了一種 X 射線消色差聚焦透鏡，使得寬能量范圍的 X 射線也能實現(xiàn)亞微米分辨率的顯微成像。傳統(tǒng)基于衍射或折射透鏡的 X 射線顯微成像系統(tǒng)，為了消除成像色差對圖像分辨率的影響，通常需要高度單色性的 X 射線光源，這種方法既耗時，又會導致大部分射線被浪費。這種新型復消色差聚焦透鏡系統(tǒng)能夠適應寬的X射線能量范圍，無需任何焦距調(diào)整，使得

    2023-06-12

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